Kiểm soát công suất tĩnh luôn là một thách thức đối với các kỹ sư thiết kế thiết bị điện tử cầm tay. Đặc biệt là trong các ứng dụng như pin dự phòng và pin dự phòng đa năng, ngay cả khi IC điều khiển chính chuyển sang chế độ ngủ, dòng điện rò rỉ tụ điện vẫn tiếp tục tiêu thụ năng lượng pin, dẫn đến hiện tượng "tiêu thụ điện không tải", ảnh hưởng nghiêm trọng đến tuổi thọ pin và sự hài lòng của người dùng đối với sản phẩm đầu cuối.

- Phân tích kỹ thuật nguyên nhân gốc rễ -

Bản chất của dòng điện rò rỉ là hành vi dẫn điện rất nhỏ của môi trường điện dung dưới tác động của điện trường. Kích thước của nó bị ảnh hưởng bởi nhiều yếu tố như thành phần chất điện phân, trạng thái giao diện điện cực và quy trình đóng gói. Tụ điện phân lỏng truyền thống dễ bị suy giảm hiệu suất sau khi thay đổi nhiệt độ cao thấp hoặc hàn nóng chảy, và dòng điện rò rỉ tăng lên. Mặc dù tụ điện thể rắn có nhiều ưu điểm, nhưng nếu quy trình không tinh vi, vẫn khó có thể vượt qua ngưỡng μA.

- Ưu điểm của giải pháp và quy trình YMIN -

YMIN áp dụng quy trình theo dõi kép “chất điện phân đặc biệt + hình thành chính xác”

Công thức điện phân: sử dụng vật liệu bán dẫn hữu cơ có độ ổn định cao để ức chế sự di chuyển của chất mang;

Cấu trúc điện cực: thiết kế xếp chồng nhiều lớp để tăng diện tích hiệu dụng và giảm cường độ điện trường đơn vị;

Quy trình hình thành: Thông qua việc tăng cường điện áp từng bước, một lớp oxit dày đặc được hình thành, cải thiện khả năng chịu điện áp và khả năng chống rò rỉ. Ngoài ra, sản phẩm vẫn duy trì được độ ổn định của dòng rò sau khi hàn nóng chảy, giải quyết vấn đề đồng nhất trong sản xuất hàng loạt.

- Mô tả về Xác minh và Độ tin cậy của Dữ liệu -

Sau đây là dữ liệu dòng rò rỉ của thông số kỹ thuật 270μF 25V trước và sau khi hàn chảy lại (đơn vị dòng rò rỉ: μA):

Dữ liệu thử nghiệm trước khi hàn lại

Dữ liệu thử nghiệm sau khi hàn chảy lại

- Các kịch bản ứng dụng và mô hình đề xuất -

Tất cả các mẫu đều ổn định sau khi hàn nóng chảy và phù hợp với dây chuyền sản xuất SMT tự động.